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V METROCHEM - 26/03/2010

CONGRESSO INTERNACIONAL SOBRE RASTREABILIDADE EM MEDIÇÕES LABORATORIAIS E CADEIAS PRODUTIVAS



 

A comunidade analítica brasileira testemunhou o sucesso do “V METROCHEM – Congresso Internacional sobre Rastreabilidade em Medições Laboratoriais e Cadeias de Produtivas” realizado de 11 a 13 de novembro de 2009, em São Paulo, Brasil, a maior cidade da América do Sul. A comunidade analítica brasileira testemunhou o sucesso do “V METROCHEM – Congresso Internacional sobre Rastreabilidade em Medições Laboratoriais e Cadeias de Produtivas” realizado de 11 a 13 de novembro de 2009, em São Paulo, Brasil, a maior cidade da América do Sul, com uma população de 20 milhões de habitantes e um PIB de aproximadamente 500 bilhões de dólares, sendo também o centro mais industrializado do Brasil. Suas indústrias são altamente dependentes de sólidos procedimentos de rastreabilidade, tanto em termos de medições químicas como em certificação de origem de produtos consumidos pela população.

Esse congresso foi uma excelente oportunidade para que representantes de diversos setores industriais, órgãos normativos, setor acadêmico, governos e profissionais individuais pudessem atualizar seus conhecimentos relacionados com os assuntos tratados em painéis e sessões técnicas deste evento.

O congresso teve dois focos primordiais: (I) rastreabilidade para medições de laboratório com ênfase em métodos de referência, materiais de referências certificados e métodos e requisitos para a obtenção de resultados laboratoriais confiáveis que possam ser comparados no tempo e no espaço, e (II) rastreabilidade de cadeias produtivas, focalizando as indústrias de alimentos, bebidas, pesca e do setor químico.

Esse evento foi patrocinado pela Rede Metrológica do Estado de São Paulo (REMESP), pelo Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-SP) e pela CITAC – International Cooperation on Traceability in Analytical Chemistry (Cooperação Internacional em Rastreabilidade em Química Analítica).

O evento contou com a participação de mais de cento e cinqüenta (150) profissionais interessados em atualizar seus conhecimentos técnicos, incluindo dez reconhecidos especialistas nas áreas de metrologia vindos de outros países.

A interação entre os cinqüenta (50) especialistas convidados e os participantes do congresso resultou em uma contribuição positiva para instituições de ensino superior, indústrias, empresas prestadoras de serviços e exportadores.

O público-alvo do V Metrochem foi constituído por profissionais técnicos e administrativos de laboratórios de ensaios e calibração, órgãos normativos, organizações de certificação e qualidade, exportadores, instituições de pesquisa e desenvolvimento, além de universidades. 

Os principais temas das apresentações enfatizaram assuntos como rastreabilidade metrológica, especificações e regulamentos técnicos de produtos, cadeia alimentar e segurança, cadeia de custódia de produtos florestais, Análise de Riscos e Pontos Críticos de Controle (HACCP), qualidade em medições laboratoriais, hierarquia metrológica, VIM, tradução técnica, rastreabilidade relativa a equipamentos analíticos, rastreabilidade em gases industriais, cadeia de produção de carnes e pescados, produção de materiais de referência certificados, proteção do consumidor, entre outros.

Um curso coordenado pela Fundação Certi sobre “Confiabilidade Metrológica em Laboratórios Químicos: ferramentas e Recursos para Garantia de Qualidade em Medições Analíticas” foi realizado nos dias que precederam ao evento. Seu público-alvo incluiu principalmente gerentes e profissionais de laboratórios de ensaios e de pesquisa, focalizando problemas de medição.

O congresso incluiu uma sessão de pôsteres com painéis expostos durante o período do Congresso, os quais trataram de diversos temas, como validação de métodos e procedimentos, incerteza em medições, calibração, credenciamento e reconhecimento formal de sistemas de gestão em qualidade e de metrologia, materiais de referência – produção e uso, programas de comparação interlaboratoriais, técnicas de laboratório e métodos analíticos.

A cerimônia de abertura começou com apresentações feitas pelo coral da Universidade de São Paulo. Em seguida, foi realizada uma sessão de prêmios onde o Dr. Robert Kaarls, Dr. José Carlos de Castro Waeny (in memoriam) e a Dra. Vera Maria Lopes Ponçano receberam reconhecimentos de Excelência Profissional em suas respectivas áreas de atuação. 

Dr. Guilherme Ari Plonsky, da Faculdade de Economia, Administração e Contabilidade da Universidade de São Paulo (FEA/USP) e presidente da Associação Nacional de Entidades Promotoras de Empreendimentos Inovadores (ANPROTEC) foi um dos oradores que abrilhantaram a sessão de abertura. Em sua palestra “Traceability in Production Chains: Ancient Idea – New Relevance” (“Rastreabilidade em Cadeias  Produtivas: Uma Idéia Antiga – Nova Relevância”) uma expressiva e criativa análise histórica foi apresentada, iniciando-se em tempos bíblicos chegando até os nossos dias, ressaltando a importância da rastreabilidade de bens e produtos, conhecendo e reconhecendo-os desde a sua origem.

A primeira parte do programa técnico contou com a participação de membros da CITAC e organizações internacionais associadas e teve início com a apresentação do Dr. Robert Kaarls (Presidente da CCQM). Dr Kaarls destacou o impacto da metrologia na economia global e também as demandas de rastreabilidade metrológica em áreas científicas bem recentes.

Em seguida o Dr. Willie May (NIST-EUA) chamou a atenção da platéia ao apresentar dados e fatos relacionados com o impacto da metrologia em química na competitividade industrial e na qualidade de vida. Na seqüência o Dr. Ilya Kuselman (NPL-Israel) descreveu o papel da CITAC no desenvolvimento da rastreabilidade metrológica em todo o mundo e as suas atuais atividades.

Na seqüência o Prof. Paul de Bièvre explicou como o conceito de rastreabilidade metrológica em resultados de medições pode ser implementado em química. A Dra. Maria Fernandes Whaley (NMISA-África do Sul) apresentou um modelo de gestão da metrologia em química, tomando como exemplo o contexto Africano (AFRIMET) de como a disseminação da rastreabilidade foi implementada na prática em seus diversos segmentos.

O Dr. Philip Taylor compartilhou sua experiência exemplificando como as plataformas européias Trainmic e Euromaster tiveram sucesso. A palestra do Dr. Nineta Majcen (NMI-Eslovênia) descreveu de forma brilhante a estratégia usada para construir uma infra-estrutura metrológica nacional usando as competências existentes, a fim de atender as demandas mais urgentes de seu país, mostrando os benefícios desse sistema compartilhado.

Outro tópico interessante foi a apresentação do novo Vocabulário Internacional de Metrologia (VIM). Embora agora seja amplamente aceita como a linguagem técnica oficial em metrologia, problemas de tradução para a língua portuguesa foram levantados pela professora Dra. Maria Filomena Camões da Universidade de Lisboa, que levou os presentes à reflexão de forma bastante dinâmica.  Assim, após uma animada discussão com os presentes, evidenciou-se o quão importante é o entendimento profundo dos conceitos metrológicos antes de iniciar qualquer tradução do VIM e de temas correlatos.

Além dos oradores estrangeiros acima mencionados, o congresso teve uma expressiva participação de especialistas brasileiros, que fizeram um total de trinta (30) apresentações orais, e que também propiciaram a apresentação de cinqüenta (50) pôsteres, num processo bastante dinâmico, com intensa troca de informações com os presentes. Essas apresentações abrangeram os temas tratados pelas diversas sessões técnicas, de legislação até redes metrológicas e usuários finais, incluindo saúde e rastreabilidade, certificação, credenciamento e hierarquia metrológica; administração metrológica, rastreabilidade nas cadeias de produção; materiais de referência; educação e treinamento, além de gestão de laboratórios e equipamentos analíticos.

Educação e treinamento foram considerados essenciais para disseminar o conhecimento em metrologia e o correto uso das ferramentas metrológicas, de forma completa e consistente. Seguindo esse roteiro, professores brasileiros de universidades públicas e privadas relataram suas experiências em introduzir a metrologia em química no currículo da universidade. Foram mencionadas por esses professores as ações que impulsionaram o início dessas atividades em 1998 - 2000 pelo então Programa Brasileiro de Metrologia em Química, que anos depois se transformou na Rede Brasileira de Medições em Química.

As apresentações relacionadas à rastreabilidade da cadeia produtivas descreveram como as indústrias brasileiras de carne, pescados, aves e madeira estão organizando seus sistemas de controle de qualidade para demonstrar ao consumidor a rastreabilidade, da fazenda à prateleira. Foram sessões extremamente ricas em conhecimento e amplamente ilustradas pelos experientes profissionais que fizeram as palestra, profissionais da indústria e da academia. Esse tópico é altamente importante para o Brasil que é um dos maiores produtores de mercadorias do mundo.

A presença e participação ativa de colegas da comunidade metrológica nacional e internacional agregaram um valor real a este evento, onde a rastreabilidade vista sob diferentes perspectivas foi o elemento chave, estimulante à discussão e aos avanços científicos, com foco em sua aplicação na realidade vivida pela indústria e pelos consumidores, como bem enfatizado com a presença do Instituto de Defesa do Consumidor.

Ao final do Congresso, foi realizada uma segunda sessão de prêmios, reconhecendo os cinco melhores trabalhos apresentados durante o congresso de acordo com as regras estabelecidas pelo comitê científico. O evento foi encerrado com uma sessão plenária de avaliação e recomendações para a seqüência de atividades na área de metrologia em química e cadeias produtivas, continuando com a forte interação existente entre os seus usuários, a qual resultou em diversas sugestões interessantes voltadas para manter viva a atmosfera científica amigável vivida em São Paulo.

Vera Maria Lopes Ponçano
Presidente - V METROCHEM
Diretora Técnica – REMESP]
Executive Board  - CITAC


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